原位加热加电样TKD品台可以让用户在扫描电子显微镜(SEM)或聚焦离子束(FIB)内进行原位加热和/或电学实验。特别是对于TEM用户,该平台允许用户在SEM内进行相对快速的初步原位样品表征,以便为进一步的TEM实验开发工作流程,从而节省宝贵的TEM时间,提高高效的解决方案。技术参数:1.*电极数:8电极(可同时加热和加电)2.*金属加热丝,非陶瓷材料,升温降温速度快,即是热导材料,又是热敏材料,其电阻与温度有良好的线性关系。金属加热丝是被SiN包裹,不与样品发生反应。3.*温...
查看详情原位加热样品台由样品台,控制器,源表以及计算机软件程序等构成。多路电子测量可以消除接触电阻的影响,良好的电学屏蔽可以降低环境噪声。使得同时加热条件下的电学测量得以实现。产品提供数字化,自动化管理程序使得实验操控变得十分容易。该仪器将在固态电池、功能氧化物、半导体材料以及相变等研究领域中广泛应用。原位加热样品台上的芯片可外接力学控制器,可动态实时观察样品材料微结构的变化。通过实时获取的载荷、形变等数据,以及透射电子显微镜所提供的材料微结构变化数据,实现了定量分析材料的微观力学性...
查看详情恩斯特·阿贝最开始指出,对物体细节的分辨率受到用于成像的光波波长的限制,因此使用光学显微镜仅能对微米级的结构进行放大观察。通过使用由奥古斯特·柯勒和莫里茨·冯·罗尔研制的紫外光显微镜,可以将极限分辨率提升约一倍。然而,由于常用的玻璃会吸收紫外线,这种方法需要更昂贵的石英光学元件。当时人们认为由于光学波长的限制,无法得到亚微米分辨率的图像。1858年,尤利乌斯·普吕克认识到可以通过使用磁场来使阴极射线弯曲。这个效应早在1897年就由曾经被费迪南德·布劳恩用来制造一种被称为阴极射...
查看详情透射电镜是一种综合性大型分析仪器,在现代科学技术的研究开发工作中被广泛地使用。由于透射电镜能观察的样品必须很薄(60~70nm),所以透射电镜的样品准备要求很严格,方法也很单一。一般有以下两种方法:一、负染色技术负染色技术简单快速,可以显示生物大分子、细菌、分离的细胞器以及蛋白晶体等样品的形态、结构、大小以及表面结构的特征。尤其在病毒学中,负染色技术有着广泛的应用。样品要求:①透射电镜样品悬液的纯度不要求很纯,但是如果杂质太多,如大量的细胞碎片,培养基残渣,糖类以及各种盐类结...
查看详情sem扫描电镜喷金是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学研究中发挥了重要作用。在扫描电镜上进行材料试验,可以充分利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能,在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。微型拉伸台可以为很多材料做拉伸测试,如金属材料,高分子材料,陶瓷材料等。通过扫描电镜对微观结构的形态变化进行原位成像,从而深入理解形态变化的原因并对变化时刻进行成像。结合对动态实验的信息可以克服对传统的应力/应变数据解释的不确定因素。sem扫描电镜喷金...
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