本公司原位加热样品台由样品台，控制器，以及计算机软件程序等构成，该设备使用四电极法闭合回路控制及反馈环境温度以消除接触电阻影响。可用于电镜样品在不同的高温条件下的结构表征。
原位加热样品台主要在低维材料、纳米技术、材料工程、能源材料及软物质等研究领域中广泛应用。
产品特点：
● 快速实现温度/样品的稳定
● 准确的温度测量
● 样品制备简单易行
● 超高的温度精度及温度均匀性
性能规格
● 工作温度范围: 室温到1100℃(普通芯片)；室温到1300℃(高温芯片)
● 加热方式：四电极法闭合回路控制及反馈环境温度
● 温度精度：< 5 %
● 温度稳定性：< 0.01 °C
● 加热速率：200℃/ms
● 温度设定时间：< 2s
● 样品漂移：温差1000℃时，< 200nm
● 转角范围：单倾；双倾；三维重构
● 分辨率：不低于电镜室温分辨率
