透射电镜样品杆（TEM样品杆）是透射电镜中的重要部件之一，主要作用是将待检测样品放置在电子束中心，使其能够被电子束穿过并产生图像，以进行高分辨率的显微图像观察。
TEM样品杆的工作原理基于电子束的性质，电子束可以穿透物质，但是会在物质中发生散射。为了得到高质量的TEM图像，需要将样品放置在电子束中心，使电子束尽可能穿透样品并减少散射产生的影响。TEM样品杆的设计可以使得样品在以尽量小的角度与电子束相交的情况下，满足一定的条件进行高分辨率的成像。
透射电镜样品杆的操作方法包括以下几个步骤：
1.制备样品：TEM样品需要制备成极薄的薄片或纤维，通常使用离子薄片机或溶液析出法制备样品。
2.放置样品：将样品放置在TEM样品杆的样品架上并定位到特定区域，需要借助显微镜或其他精确定位装置进行操作。
3.调整TEM参数：在样品放置完成后，需要根据样品类型和所需成像方式调整TEM参数，包括电子束能量、聚焦、准直等。
4.开始成像：当样品放置并调整完毕后，可以开始进行TEM成像。电子束从电子源中发出并通过TEM样品杆，穿过样品后到达能量选择器，选择器中只允许特定的电子能量穿过。经过选择器后的电子会被透镜系统聚焦到投影仪上，形成高分辨率的TEM图像。
整个过程需要经过高精度的操作和控制，对设备要求较高，但能够获得高分辨率的显微图像，并且样品直接被放置在电子束中心，能够进行准确的成像观察，具有非常重要的作用。
