原位加热加电样TKD品台可以让用户在扫描电子显微镜 (SEM) 或聚焦离子束 (FIB) 内进行原位加热和/或电学实验。 特别是对于 TEM 用户，该平台允许用户在 SEM 内进行相对快速的初步原位样品表征，以便为进一步的TEM 实验开发工作流程，从而节省宝贵的 TEM 时间，提高高效的解决方案。
技术参数：
1. *电极数：8电极(可同时加热和加电)
2. *金属加热丝，非陶瓷材料，升温降温速度快，即是热导材料，又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系。金属加热丝是被SiN包裹，不与样品发生反应。
3. *温度范围：高温芯片：室温到1100℃，超高温芯片：室温到 1300℃，热电一体芯片：室温到 900℃。
4. *温度稳定性：加热到 1300℃时，只有 < 0.01℃的温度变化
5. *加热控制方式：四电极法闭合回路控制和反馈环境温度
6. *最高电场：300kV/cm(室温-900℃)
7. *最高工作电压： 150V(室温-900℃)
8. 最小的检测电流：pA范围
9. 温度精确度：≥95%
10. 温度均匀度：≥99.5%
原位加热加电样TKD品台工作原理：在扫描电镜中对样品加热在许多材料科学研究中已经成了一项的手段，使用扫描电镜原位加热台可以进行动态地观察温度变化过程中的材料微观变化及失效分析。如今被广泛应用于金属材料、液晶检测、半导体、高分子材料、流体包裹体、生物工程等众多领域。原位加热台能够使我们动态地观察样品在加热过程中的相变、再结晶、晶粒生长与氧化现象。
